EMMI微光显微镜微光显微镜（EmissionMicroscope，EMMI）是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言，微光显微镜（EmissionMicroscope，EMMI）是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中，EHP（ElectronHolePairs）Recombination会放出光子（Photon）。如在P-N结加偏压，此时N阱的电子很容易扩散到P阱，而P的空穴也容易扩散至N，然后与P端的空穴（或N端的电子）做EHPRecombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面，微光显微镜可分析P-N接面漏电；P-N接面崩溃；饱和区晶体管的热电子；氧化层漏电生的光子激发；Latchup、GateOxideDefect、JunctionLeakage、HotCarriersEffect、ESD等问题.对于故障分析而言，微光显微镜(EmissionMicroscope，EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中，红外显微镜，EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。举例说明：在P-N结加偏压，显微镜，此时N阱的电子很容易扩散到P阱，而P的空穴也容易扩散至N然後与P端的空穴（或N端的电子）做EHPRecombination。EMMI可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷(Gateoxidedefects)、静电放电破坏(ESDFailure)、闩锁效应(LatchUp)、漏电(Leakage)、接面漏电(JunctionLeakage)、顺向偏压(ForwardBias)及在饱和区域操作的晶体管，EMMI微光显微镜，可藉由EMMI定位，找热点(HotSpot或找亮点)位置，进而得知缺陷原因，帮助后续进一步的失效分析。EMMI显微镜-显微镜-特斯特电子科技公司由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远，砥砺前行。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)