当具有高能量的入射（一次）X射线与原子发生碰撞时，会打破（待测样品的）原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位，这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来.分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪）X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，EDX-5000光谱测金仪品牌，简称：XRF光谱仪）。使用超大面积25mm2铍窗SDD检测器(普通Si-pin检测器6mm2)，该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度（计数率CPS），从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Si-pin版本台式仪器相比，EDX8000Ma谱仪可以全功率运行，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现黄金珠宝首饰检测EDX8000Max>仪器参数仪器外观尺寸:500mm*495mm*390mm样品腔：410mm*330mm*140mm仪器重量:45kg英飞思科学-黑河EDX-5000光谱测金仪品牌由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。行路致远，砥砺前行。苏州英飞思科学仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)