热阻测试仪是的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，失效分析设备，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。Phasc12测试来的数据，器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，对不同厂家同类产品而言，可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同-~厂家，同类产品，不同批次质量的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，失效分析仪，LED，失效分析仪器，MOSFET，MESFET，失效分析，IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。热阻电性规格：加热电流测量精度（低电流测量:0.2，1和2安培测量）2A系统:±1mA10A系统:±5mA20A系统:(±10mA)加热电流测量精度（高电流测量:2，10和20安培测量）:2A系统:±4mA10A系统:±20mA20A系统:(±40mA)加热电压测量精度:±0.25%，0~30V热电偶测量精度(T型):典型±0.1°C交流电压：220VAC，10A，50/60Hz器件的测试的供电电压：20V（标配），其他的是选配。器件的测试的供电电流：30A(标配)，选配（100A200A，400A，800A，1000A及更高电流）节温的感应电流：1mA，5mA，10mA，20mA，50mA(标配)，100mA，500mA，1000mA，2500mA是选配。数据采样频率1MHz结温精度±0.1°C分辨率：±0.007°C。失效分析仪-失效分析-苏州特斯特公司(查看)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司在分析仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，苏州特斯特一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。相关业务欢迎垂询，联系人：宋作鹏。)