膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪SimplyTheBest>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品>钢上锌等防腐涂层>电路板和柔性PCB上的涂层>插头和电触点的接触面>电镀液分析>镀层，如金基上的铑材料分析>电镀液分析>分析电子和半导体行业的功能涂层>分析硬质材料涂层，例如CrN、TiN或TiCN>可拓展增加RoHS有害元素分析功能苏州英飞思(多图)-铁岭EDX-8000B型XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是江苏苏州,分析仪器的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在英飞思科学领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创英飞思科学更加美好的未来。)