膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪SimplyTheBest>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品>钢上锌等防腐涂层>电路板和柔性PCB上的涂层>插头和电触点的接触面>电镀液分析>镀层，如金基上的铑材料分析>电镀液分析>分析电子和半导体行业的功能涂层>分析硬质材料涂层，例如CrN、TiN或TiCN>可拓展增加RoHS有害元素分析功能它以PLC和工业计算机为，EDX-8000TPlus镀层测厚仪，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.EDX-8000TPlus镀层测厚仪-英飞思科学仪器(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司实力不俗，信誉可靠，在江苏苏州的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。英飞思科学带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌，共创美好未来！)