苏州英飞思科学仪器有限公司，膜厚仪EDX8000TPlus，英文名字：EfficiencyScientificInstrumentCo.，Ltd.公司logo和英文缩写为ESI。英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品>钢上锌等防腐涂层>电路板和柔性PCB上的涂层>插头和电触点的接触面>电镀液分析>镀层，如金基上的铑材料分析>电镀液分析>分析电子和半导体行业的功能涂层>分析硬质材料涂层，例如CrN、TiN或TiCN>可拓展增加RoHS有害元素分析功能用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。膜厚仪EDX8000TPlus-苏州英飞思(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。膜厚仪EDX8000TPlus-苏州英飞思(图)是苏州英飞思科学仪器有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：张经理。)