《微米级精度——VTL拉伸实验电子材料失效难题》芯片封装、柔性电路、微型连接器…电子产品的微型化对材料力学性能提出要求。江苏威阔检测（VTL）依托ISO/IEC17025体系，以纳米级精度为电子材料提供拉伸实验支持。技术亮点微尺度拉伸：微型试验机（载荷0.1N-5kN），测试芯片焊点、引线键合强度（如某金丝焊点抗拉强度＞100MPa）；某折叠屏手机铰链材料经测试，10万次弯折后抗拉强度保持率＞95%。多维度数据输出：应力-应变曲线、断裂形貌（SEM观测）、各向异性分析；某PCB基材经测试优化玻纤排布，各向强度差异缩小至5%以内。案例：某TWS耳机镍钛合金记忆丝经VTL拉伸实验，循环寿命从5万次提升至20万次。VTL，让微小材料的力学性能无所遁形！老化试验后评价对任一暴露测试项目的结果进行适当的量化是很重要的。通常，客户会关心材料在暴露过程中哪些性能发生了改变，改变了多少。材料某些性能的改变，宿迁耐臭氧，如颜色或光泽可以用仪器来进行测量。有些性能如开裂、起皮、粉化、起泡和生锈等可以目视检查，耐臭氧箱，也可以按相关标准来进行评估。（1）外观（目视检查）失光：GB/T1766-2008第4.1节变色：GB/T1766-2008第4.2节粉化：GB/T1766-2008第4.3节、GB/T30789.6/7-2015、ISO4628-6:2011、ISO4628-7:2016、ASTMD4214-07开裂：GB/T1766-2008第4.4节、GB/T30789.4-2015、ISO4628-4:2016、ASTMD660-93(2011)起泡：GB/T1766-2008第4.5节、GB/T30789.2-2014、ISO4628-2:2016、ISO4628-7:2016、ASTMD714-02(2009)生锈：GB/T1766-2008第4.6节、GB/T30789.3-2014、ISO4628-3:2016、ASTMD610-08(2012)剥落：GB/T1766-2008第4.7节、GB/T30789.5-2015、ISO4628-5:2016、ASTMD772-86(2011)斑点：GB/T1766-2008第4.9节综合等级：GB/T1766-2008（2）色差（ASTMD2244）（3）灰色等级（ISO105-A02）（4）光泽度（ASTMD523）GB/T1766-2088保护性漆膜综合老化性能等级见下表：滚筒剥离强度试验GB/T1457-2022夹层结构滚筒剥离强度试验方法试验原理：用带凸缘的筒体从夹层结构中剥离面板的方法来测定面板与芯了连接的抗剥离强度。被剥离面板一端连接筒体，一端连接上夹具，凸缘通过加载钢带连接下夹具，沿试样轴向匀速施加静态拉伸载荷，凸缘与滚筒筒体间产生力矩差，从而把面板从夹层结构中剥离开。对于正交各向异性夹层结构，试样应分纵向和横向两种。对于湿法成型的夹层结构制品，试样应分剥离上面板和剥离下面板两种。用作抗力试验的面板试样，耐臭氧老化箱，其材料、厚度、宽度应与被剥离面板一致。或在剥离试验后，根据剥离状况确定。面板带有附着层从夹层结构分离时，应从夹层结构中切取带有附着层的面板进行抗力试验。耐臭氧箱-宿迁耐臭氧-威阔检测由江苏威阔检测技术服务有限公司提供。江苏威阔检测技术服务有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。威阔检测——您可信赖的朋友，公司地址：江苏省苏州市高新区通安镇华金路278号6号厂房，联系人：秦磊。)