要想认识高分子材料的微观结构和性能，获得其高分辨率三维成像至关重要。ThermoScientificApreoVolumeScope的一大亮点，紫外老化试验箱，就是在其SEM的真空室内设置了一个超薄切片机，在对材料试样进行自动化连续切片的同时完成高分辨率电镜原位成像，即SBF-SEM。后续的SEM图像重构则会生成相应的高分辨率三维数据集，宿迁紫外老化，以便进行进一步的分析。我们以滤膜和共混物为例，提供这两种高分子材料的数据采集示例。人造板及饰面人造板理化性能检测GB/T17657-2013人造板是以木材或非木材植物纤维为主要原料，紫外线老化箱，加工成各种材料单元，施加（或不施加）胶黏剂和其他添加剂，紫外老化试验机，组坏胶合而成的板材或成型制品。主要包括胶合板、刨花板、纤维板及其表面装饰板等产品。饰面人造板是以人造板为基材，经涂饰或以各种装饰材料饰面的板材。GB/T17657-2013主要的检测项目有：密度GB/T17657-2013（4.2）含水率GB/T17657-2013（4.3）吸水厚度膨胀率测定——方法1GB/T17657-2013（4.4）吸水厚度膨胀率测定——方法2GB/T17657-2013（4.5）24h吸水率测定GB/T17657-2013（4.6）静曲强度和弹性模量测定（三点弯曲）GB/T17657-2013（4.7）静曲强度和弹性模量测定（四点弯曲）GB/T17657-2013（4.8）70℃和100℃水中浸渍处理后静曲强度测定GB/T17657-2013（4.9）水煮（浸）-冰冻-干燥处理后静曲强度的测定GB/T17657-2013（4.10）内胶合（结合）强度测定GB/T17657-2013（4.11）2h沸水煮后内胶合（结合）强度测定GB/T17657-2013（4.12）防潮性能测定——沸水煮试验GB/T17657-2013（4.13）防潮性能测定——循环试验GB/T17657-2013（4.14）表面胶合强度测定——方法1GB/T17657-2013（4.15）表面胶合强度测定——方法2GB/T17657-2013（4.16）胶合强度测定GB/T17657-2013（4.17）电容率和介质损耗因数GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法相对电容率：电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容与同样电极构形的真空电容之比。介质损耗角：由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此产生的电流之间的相位差的余角。介质损耗因数：损耗角的正切。介质损耗指数：损耗因数与相对电容率的乘积。江苏威阔检测技术服务有限公司提供电容率和介质损耗因数测试服务。测试设备：介电常数介质损耗测试仪型号规格：LJD-B频率范围：0.1MHz~50MHz电感量：0.1μH~10mH江苏威阔检测(图)-紫外老化试验机-宿迁紫外老化由江苏威阔检测技术服务有限公司提供。行路致远，砥砺前行。江苏威阔检测技术服务有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为电热设备具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)