超声检测-特斯特-超声检测设备
EMMI侦测的到亮点、热点(HotSpot)情况;原来就会有的亮点、热点(HotSpot)饱和区操作中的BJT或MOS(SaturatedOrActiveBipolarTransistors/SaturatedMOS)动态式CMOS(DynamicCMOS)二极管顺向与逆向偏压崩溃(ForwardBiasedDiodes/ReverseBiasedDiodesBreakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(OhmicShort/MetalShort)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(BuriedJuncti)金属线底下的漏电区(LeakageSitesUnderMetal)微光显微镜侦测不到亮点之情况:不会出现亮点的故障-欧姆接触;金属互联短路;表面反型层;硅导电通路等。亮点被遮蔽之情况-BuriedJuncti及Leakagesitesundermetal,这种情况可以采用backside模式,超声检测,但是只能探测近红外波段的发光,且需要减薄及抛光处理。苏州特斯特电子科技有限公司,超声检测服务,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。4探头超声波扫描显微镜分析系统,超声检测设备,四探头系统,超声检测仪器,同时使用4只换能器-扫描速度:2000mm/s-与其它品牌相比扫描30%-扫描范围:1000mm×700mm-小扫描范围:200μm×200μm-带宽:550MHz-放大倍数:250倍-新型FCT换能器。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。超声检测-特斯特-超声检测设备由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!)
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