（超声波扫描显微镜)无损检测超声扫描显微镜是一种利用超声波为传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查材料内部的晶格结构，杂质颗粒、夹杂物、沉淀物、内部裂纹、分层缺陷、空洞、气泡、空隙等。著作权归作者所有。商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。芯片失效分析步骤:1、非破坏性分析：主要是超声波扫描显微镜（C-SAM）--看有没delamination，xray--看内部结构，等等；2、电测：主要工具，红外显微镜，万用表，示波器，tek370a3、破坏性分析：机械decap，化学decap芯片开封机4、半导体器件芯片失效分析芯片內部分析，孔洞气泡失效分析。苏州特斯特电子科技有限公司，显微镜，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，EMMI显微镜，电路板，线缆线束的测试与检测。4探头超声波扫描显微镜分析系统，四探头系统，同时使用4只换能器-扫描速度：2000mm/s-与其它品牌相比扫描30%-扫描范围：1000mm×700mm-小扫描范围：200μm×200μm-带宽：550MHz-放大倍数：250倍-新型FCT换能器。苏州特斯特电子科技有限公司，微光显微镜，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。微光显微镜-显微镜-苏州特斯特公司(查看)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是江苏苏州,分析仪器的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在苏州特斯特领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创苏州特斯特更加美好的未来。)