膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪SimplyTheBest>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。XRF金属镀层测厚仪产品特点>测试快速，无需样品制备>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，亳州XRF镀层测厚仪，污染或破坏被测物>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率>可切换准直器和滤光片XRF金属镀层测厚仪应用场景>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，XRF镀层测厚仪供应，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。XRF镀层测厚仪公司-英飞思科学-亳州XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司，公司位于：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，多年来，英飞思科学坚持为客户提供好的服务，联系人：张经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴！)