由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。但越精密的电路，检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开，再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄，这样检测方式对芯片具有极大破坏性，此时，MatrixXray，X-ray无损检测设备可提供解决方案。在国内AOI检测技术是近几年才兴起的一种新型测试技术，且发展实力迅猛。AOI检测设备未来的发展主要受益于以下几方面因素：一方面，电子元器件向小型化发展，AOI检测设备替代人工将成为必然趋势。目前大多数工厂还在采用人工目视的检测方式，但是随着电子产品小型化及低能耗化的市场需求越来越旺盛，电子元器件向小型化发展步伐也越来越快。目前市场常见的较小片式组件尺寸：英制是0603(1.6mm长x0.8mm宽)及0402(1.0mm长x0.5mm宽)组件尺寸，这样的组件在装配过程中借助于放大镜尚可以目视。但是越来越多的客户已经采用了0201(0.6mm长x0.3mm宽)及01005(0.4mm长x0.2mm宽)的组件，这样的组件在装配过程中不可能采用人工目视的方式，必须采用AOI检测设备。此外，人容易疲劳和受情绪影响。相对于人工目检而言，AOI检测设备具有更高的稳定性、可重复性和更高的准确度。因此，AOI检测设备取代人工的必然趋势也将会越来越明显。另一方面，人工成本越来越高，将加速AOI检测设备替代的进程。随着我国人工成本逐年增长，一条SMT生产线配备3-10个人。采用目视检测产品的人海i战术，势必会增加生产线的运营成本。未来电子制造企业出于对产品质量和成本控制的需求，将加速AOI检测设备替代人工的进程。AOI光学检测机一种以金属材质为主体的光学检测设备，厚重的金属机身不仅有利于设备保持机器结构，还能起到稳固位置的作用，以免机器设备位移而影响使用。但是，金属结构为主体的设备也表现出维护的困惑。金属容易生锈，氧化，而AOI检测设备则对稳定性，精密性要求较高，适宜的环境能发挥AOI设备的很好的性能，否则将导致检测缺乏稳定，甚至损坏发黑工艺而使AOI设备主体结构生锈。杭州MatrixXray-圣全(在线咨询)由苏州圣全科技有限公司提供。苏州圣全科技有限公司为客户提供“苏州无损检测设备,xray无损检测,苏州探伤仪”等业务，公司拥有“圣全”等品牌，专注于工业自动控制系统及装备等行业。，在苏州市工业园区亭翔街3号的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：尹恒全。)