⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Cr/Fe，Ni/Fe，Ag/Cu，Zn/Fe等多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu，Ag/Pb/Zn，Ni/Cu/Fe等合金镀层应用：如ZnNi/Fe，ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe，同时分析镍磷含量和镀层厚度英飞思XRF镀层测厚仪优势>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。苏州英飞思科学-绥化EDX-8000B型XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司为客户提供“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”等业务，公司拥有“英飞思”等品牌，专注于分析仪器等行业。，在苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：张经理。)