膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪SimplyTheBest>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品>钢上锌等防腐涂层>电路板和柔性PCB上的涂层>插头和电触点的接触面>电镀液分析>镀层，膜厚仪EDX8000TPlus，如金基上的铑材料分析>电镀液分析>分析电子和半导体行业的功能涂层>分析硬质材料涂层，例如CrN、TiN或TiCN>可拓展增加RoHS有害元素分析功能苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。膜厚仪EDX8000TPlus-英飞思科学(推荐商家)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是一家从事“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“英飞思”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使英飞思科学在分析仪器中赢得了客户的信任，树立了良好的企业形象。特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！)