舟山XRF镀层测厚仪-苏州英飞思
苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:EfficiencyScientificInstrumentCo.,Ltd.公司logo和英文缩写为ESI。英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,XRF镀层测厚仪,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。它以PLC和工业计算机为,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.英飞思XRF镀层测厚仪优势>微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。>硅漂移探测器(SDD)作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。舟山XRF镀层测厚仪-苏州英飞思由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司为客户提供“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”等业务,公司拥有“英飞思”等品牌,专注于分析仪器等行业。,在苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室的名声不错。欢迎来电垂询,联系人:张经理。)
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