半导体射频测试技术-德普福电子-上海半导体射频测试
采用超外差结构的另外一种实现方法是利用中频采样来减少信号链上的器件个数。这种方法选择在中频对信号进行采样,射频半导体测试设备,而不是在采样前先将信号混合到基带。在头一种超外差结构中,从中频到基带的转换过程需要以下器件:本机锁相环、智能解调器(混频器)和双向ADC(模拟-数字转换器)。如果选择在中频进行采样,那这三个器件可以用一个高的性能的ADC来代替。这不仅可以降低信号链的复杂程度,还可以提高信号解调的质量。与微波相比,毫米波信号在恶劣的气候条件下,尤其是降雨时的衰减要大许多,严重影响传播效果。经过研究得出的结论是,半导体射频测试技术,毫米波信号降雨时衰减的大小与降雨的瞬时强度、距离长短和雨滴形状密切相关。进一步的验证表明:通常情况下,上海半导体射频测试,降雨的瞬时强度越大、距离越远、雨滴越大,所引起的衰减也就越严重。因此,对付降雨衰减有效的办法是在进行毫米波通信系统或通信线路设计时,半导体射频测试厂家,留出足够的电平衰减余量。有源RFID技术(2.45GHz、5.8GHz)有源RFID具备低发射功率、通信距离长、传输数据量大,可靠性高和兼容性好等特点,与无源RFID相比,在技术上的优势非常明显。被广泛地应用到公路收费、港口货运管理、人员位置管理等应用中。但是使用此频段具有很强的方向性,并且在接收区域内如有金属物体的话,金属物体对该频段的射频会产生折射和反射,从而影响射频的信号读写。半导体射频测试技术-德普福电子-上海半导体射频测试由昆山德普福电子科技有限公司提供。昆山德普福电子科技有限公司是江苏苏州,变频器、分频器的见证者,多年来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,满足客户需求。在德普福电子领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈,共创德普福电子更加美好的未来。)
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