GS-HB6040设备中央电机计器CEW尺寸测量设备中央电机计器CEW尺寸测量设备GS-HB6040型号：GS-HB6040（工作尺寸：570x420mm）smartedge系列中通用的型号。虽然它具有广泛的测量范围，但它非常紧凑，并且它是一种价格合理的设备，只有低限度的必要规格。特征大可测量A2尺寸的桌面型！低限度的必要简单规格的格！改变照明的选项因为它是标准产品，设备，所以可以缩短交货时间。用途用游标卡尺代替目测和手工测量一般模切产品特别适用于汤姆逊式冲孔的工件。精度不是很高，可以测量大A2尺寸的工件尺寸。我们擅长批量生产需要频繁测量的工件。大型花岗岩台面自动尺寸测量装置SmartEdgeGS-HLS180120G型号：GS-HLS180120G（工件尺寸：1，800x1，200mm）由于是石材面板规格，伸缩平缓，平衡蒸馏设备I型组，可以进行稳定的测量。大屏幕电视光学膜制造商的介绍结果很多。也可以选择升级吸附板。特征使用石材面板可以进行稳定的测量。也可加装全表面吸风机构，测量卷曲工件。许多出货到海外（CE标志也是一个记录）我们拥有大1800mmx1200mm的跟踪记录可定制尺寸用途一般模切产品它特别擅长大型工件，非常适合测量光学薄膜（例如大型电视的光学薄膜）。由于吸附机制，可以抑制大型工件的翘曲。SEMILAB弹性金属探头CV测量装置FCV-3000设备SEMILAB弹性金属探头CV测量装置FCV-3000在MCV-2200和MCV-2500中，晶圆被机器人从盒式磁带或开放式FOUP装载到映射台上。在执行电气特性测试时，测试晶圆被移动到预编程地图上的每个位置。测试数据以各种格式存储和报告。MCV-530系统允许使用探针对介电层和外延层进行快速可靠的测试，使其成为研发和小批量生产等应用的理想选择。MCV-530/530L是手动加载设备，但具有与自动MCV-2200/2500产品相同的测量功能。FCV-3000植入计量系统可快速测量与电介质相关的电气参数，例如栅极氧化物和超浅植入物（例如源极/漏极）。该方法在很宽的剂量范围内表现出出色的灵敏度。FCV系统使用小型弹性探针在电介质表面形成临时栅极。内置模式识别系统检测划线测试区域。弹性探头直径小于30μm用于介电表征，平衡蒸馏设备B型组，大于200μm用于表面电阻率测量，并且不会损坏介电表面。除了弹性探针外，还有用于1针测量的硬金属探针和用于2针测量的硬金属探针对，以实现更的定位。Cn-CV300SL系统是的非接触式电气计量系统，将SemilabSDI获得的微观和宏观Corona-Kelvin方法集成在一个平台中，提供的它可以支持研究和开发以及苛刻的大批量生产环境。超大工作台面检测装置CEW中央电机计器超大工作台面检测装置，微小缺陷检测设备，圆度测定装置产品介绍超大工作台面检测装置该设备可自动检测超大型工件（长10mx宽2m的金属板）的表面缺陷（凹痕、膨胀、变色）。它是一种类似大型洗车机的检测设备，由用于扫描的检测设备主体、用于移动主体的支撑架和长约15m的运行轨道、以及带有超大台面的检测台组成。扫描检测装置共配备13个线阵传感器摄像头和线阵照明。(获取明视野图像)接着，通过图像处理提取缺陷的特征，检测缺陷并位置，仅测量缺陷的表面形状。特征设有真空吸盘机构，消除工件在检查台上的弯曲。具有检查前擦拭工作表面并通过吹气去除灰尘和污垢的功能。可以标记检测到的缺陷可以使用三维形状测量仪详细测量检测到的缺陷的表面形状。用途通过自动化检查流程提高流程效率减少检查时间减少检查时间和标准的变化微小缺陷检测设备使用高分辨率相机和高精度XY平台的二维检测系统。适用于光学薄膜、薄片、触控面板的表面划痕、异物、缺陷的检测。凭借1.8μm的光学分辨率，可以进行极高清晰度的检查。它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。特征自动保存检测数据和图像摄像头像素：900万像素高光学分辨率(1.8μm)可以清晰地看到精细的检查点。适用于检查触摸屏的周边电极和印刷电路板上的精细配线是否有断线和短路。圆度测定装置该设备通过使用两个光学系统拍摄工件来检查工件的圆度。特征被测物的长径可通过安装在零件送料器上的夹具进行变更。判断后，可以通过使用air的排序功能进行排序。每分钟可进行约180次判断可测量各种球体：陶瓷球、轴承球、珍珠等。平衡蒸馏设备I型组-津泽机电科技(在线咨询)-设备由重庆津泽机电科技有限公司提供。重庆津泽机电科技有限公司在电子、电工产品制造设备这一领域倾注了诸多的热忱和热情，津泽机电科技一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。相关业务欢迎垂询，联系人：王慧。)