天一瑞合仪器设备公司-集成电路三温测试设备
冷热冲击试验机辅助结构密封:门与箱体之间采用双层耐高温高张性密封条以确保测试区的密闭门把手:采用无反作用门把手,操作更简便样品架移动方式:样品架依靠安装箱体底部的直线往复驱动系统作上下移动脚轮:机器底部采用可固定式PU活动轮采用立式体、冷热两箱,采用提篮转换试品所在实验区域的方法,达到冷热冲击试验目的;这种结构较大限度减小了冷热冲击时的热负荷,缩短了温度回复时间,也是很可靠、很节能的一种冷热冲击的方式。冷热冲击试验箱工作原理两箱式试验箱通过机组的加热系统和制冷系统,分别产生一个高温环境(60℃~200℃)和一个低温环境(-10℃~-80℃),集成电路三温测试设备,根据温度冲击试验的相关要求,集成电路三温测试设备生产厂家,将被试验品放入指l定温室的载物篮内,待两温室达到预设温度且稳定时,通过传动机构牵动载物篮,实现篮内被测元件在高低温室间的移动。移动过程中高低温室相通,集成电路测试设备,被测元件也由高温或低温状态进入另一温室,所以会有大量冷热负荷带入,机组要通过制冷系统或加热系统迅速恢复到各温室预定温度。当被测元件所在温室温度长时间保持稳定后,再经过传动机构将载物篮反向牵动,集成电路三温测试设备厂家,把被测元件带回原温室,同样须迅速恢复到预定温度,当温度再次长时间稳定后,再重复上述操作,完成多次温度循环冲击试验。温度变化试验分为三类:1、规定转换时间的快速温度变化试验,转换时间分为:2~3min,20~30s,<10s。2、规定温度变化速率的温度变化试验,试验箱的温度升降变化速率(不超过5min内的平均值)应为1±0.2℃/min,3±0.6℃/min,5±1℃/min。3、两液槽温度快速变化试验,产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体,若没有规定则液体温度应为0℃,高温槽装有标准规定的高温液体,若没有规定,则液体温度应为100℃。天一瑞合仪器设备公司-集成电路三温测试设备由江苏天一瑞合仪器设备有限公司提供。江苏天一瑞合仪器设备有限公司是一家从事“超快速冷热冲击试验机,恒温恒湿试验箱,高低温交变湿热试验箱”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“天一瑞合”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使天一瑞合在试验机中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!)