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EMMI微光显微镜微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言,微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。如在P-N结加偏压,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,而P的空穴也容易扩散至N,然后与P端的空穴(或N端的电子)做EHPRecombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面,微光显微镜可分析P-N接面漏电;P-N接面崩溃;饱和区晶体管的热电子;氧化层漏电生的光子激发;Latchup、GateOxideDefect、JunctionLeakage、HotCarriersEffect、ESD等问题.体视显微镜OM无损检测体视显微镜,精细研磨设备,亦称实体显微镜或解剖镜。是一种具有正像立体感的目视仪器,精细研磨,从不同角度观察物体,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。对观察体无需加工制作,直接放入镜头下配合照明即可观察,成像是直立的,便于操作和解剖。视场直径大,精细研磨设备价格,但观察物要求放大倍率在200倍以下。显微镜可用于电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制的辅助鉴别及各种物质表面观察等领域,实现样品外观、形貌检测、制备样片的观察分析、封装开帽后的检查分析和晶体管点焊检查等功能。<br/><br/>著作权归作者所有。微光显微镜侦测得到亮点之情况:会产生亮点的缺陷-漏电结(JunctionLeakage);接触毛刺(Contactspiking);(热电子效应)Hotelectr;闩锁效应(Latch-Up);氧化层漏电(Gateoxidedefects/Leakage(F-Ncurrent));多晶硅晶须(Poly-siliconfilaments);衬底损伤(Substratedamage);(物理损伤)Mechanicaldamage等。原来就会有的亮点-Saturated/Activebipolartransistors;-SaturatedMOS/DynamicCMOS;Forwardbiaseddiodes/Reverse;biaseddiodes(breakdown)等。精细研磨设备-苏州特斯特(在线咨询)-精细研磨由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司为客户提供“失效分析设备,检测服务,检测仪器”等业务,公司拥有“特斯特”等品牌,专注于分析仪器等行业。,在苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间的名声不错。欢迎来电垂询,联系人:宋作鹏。)
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