?非接触式检测SEMILAB晶体缺陷检测装置LST集尘机非接触式检测SEMILAB晶体缺陷检测装置LST晶体缺陷检测装置LST系列LST-2100，LST-2500，非接触式晶体缺陷检测装置SIRM系列SIRM-2100，集尘机TDC-1006-3，SIRM-2500，SIRM-3000，压力测量仪PSI系列PSI-2100，PSI-2500，PSI-3000，集尘机，错位缺陷可视化装置EnVision，DLS低温恒温器产品介绍LST系列是一款功能强大的微晶缺陷分析仪。BMD散射入射光，该光由样品切割边缘附近的CCD相机记录。SIRM体微缺陷分析仪是一种非接触式、无损光学仪器，用于完整的体微缺陷(BMD)表征（体和半导体晶圆表面附近的氧和金属沉淀物、空隙、堆垛层错、滑移线、位错、等）是可能的。PSI产品系列专为检查和可视化晶体缺陷而开发，例如与具有大产能的自动化制造工厂的Si晶圆/小片中的机械应力（应力）相关的孪晶缺陷。。用于半导体晶圆的应力测量。晶体缺陷可视化装置EnVision是一种非破坏性、非接触式半导体检测装置，可以在15nm级别可视化位错缺陷。错位缺陷的可视化使得过去依赖于工艺工程师的经验和直觉的工艺工作的定量优化成为可能。对于验证在表面附近无法确认的深度方向的应力诱发位错缺陷非常有效。DLS低温恒温器：Semilab提供以下用于DLS仪器的低温恒温器。浴式低温恒温器：80K至450K–加热由计算机控制–控制器内置于DLS-1000中。对流式（在LN2气氛中）。自动LN2低温恒温器80K-550K（可选高达800K）。样品在真空室中——需要计算机控制加热和冷却（通过沸腾的液氮）。需要控制器——内置DOSPC和低温恒温器控制器。自动氦气（闭路循环）真空低温恒温器：30K至325K–由DLS控制软件控制。真空低温恒温器需要真空泵（可选）。东京精电LSC高频功率因数负载装置集尘机东京精电LSC高频功率因数负载装置高频功率因数负载装置：本装置是通过组合RLC负载，在18kHz~63kHb范围内实现必要的“阻抗-频率”特性的负载装置。感性负载装置：本装置为单相两线RL负载装置。它支持输入电压100V/200V。功率因数可变负载装置RLC3-4KAC：本装置是三相强制风冷式功率因数可变负载装置。.因为是AO用，所以不能用DC。.额定容量为连续额定值。感性负载(Lload)和容性负载(Oload)可独立设定。滞后功率因数和超前功率因数可在0.1~1.0范围内连续变化。400kW三相负载装置：本装置为400W三相电阻负载装置。负载可通过面板操作或遥控操作箱设定。测试电压可用200V/400V选择开关设置。由于采用防滴规格，因此可以安装在室外。RL变频器用负载装置(内置高频电抗器)：本装置是内置高频滤波器的逆变器用三相RL负载装置。阻性负载和感性负载都可以变化。适合电机用逆变器的评价。便携式RL负载设备：本装置是一-种便携式RL串联功率因数负载装置。可作为VT(电压互感器)的额定负载。240KW三相负载装置：本装置为三相电阻负载装置。可通过Penel操作或外部触点信号选择负载。电阻性负载装置RR系列东京精电LSC直流负载三相电阻负载装置(60kW)，LC负载装置，大电流电负载装置，三相电阻性负载装置，三相阻性负载装置(6kW)，电阻性负载装置(RR系列)，功率因数可变负载装置RLC系列，RLC1-1KAC，RLC1-2KAC-200V，RLC3-4KAC，RLC3-8KAC电阻负载装置RR2-4K，RR3--6K，RR3-12K，带旋转电机的RL负载装置，直流再生负载装置，AP-32集尘机，阻性负载装置，外控电阻负载装置，阻抗模拟负载装置，带旋转电机的RL负载装置，直流负载装置集尘机-TOHIN东滨工业-AP-32集尘机由重庆津泽机电科技有限公司提供。重庆津泽机电科技有限公司是从事“五金工具,机械设备及汽车配件,自动化设备,仪器仪表,实验耗材”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：王慧。)