无损检测技术--SAM将scanningacousticmicroscope(SAM)用于IC的封装扫描检测，可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查，即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以很好解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。对于故障分析而言，微光显微镜(EmissionMicroscope，EMMI微光显微镜，EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中，EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。举例说明：在P-N结加偏压，此时N阱的电子很容易扩散到P阱，而P的空穴也容易扩散至N然後与P端的空穴（或N端的电子）做EHPRecombination。4探头超声波扫描显微镜分析系统，四探头系统，同时使用4只换能器-扫描速度：2000mm/s-与其它品牌相比扫描30%-扫描范围：1000mm×700mm-小扫描范围：200μm×200μm-带宽：550MHz-放大倍数：250倍-新型FCT换能器。苏州特斯特电子科技有限公司，EMMI显微镜，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，辽宁EMMI，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。辽宁EMMI-EMMI厂家-苏州特斯特(推荐商家)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司位于苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前苏州特斯特在分析仪器中享有良好的声誉。苏州特斯特取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。苏州特斯特全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。)