电子元器件失效分析失效定位技术：显微红外热像技术(热点和温度绘图)液晶热点检测技术光发射显微分析技术(EMMI)表面元素分析：扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）俄歇电子能谱分析（AES）X射线光电子能谱分析（XPS）二次离子质谱分析（SIMS）产生效益提供电子元器件设计和工艺改进的依据，失效分析报告，指引产品可靠性工作方向；查明电子元器件失效根本原因，有效提出并实施可靠性改进措施；提高成品产品成品率及使用可靠性，提升企业核i心竞争力；明确引起产品失效的责任方，为司i法仲裁提供依据。电子元器失效分析：电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，失效分析实验室，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。因此，必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，什么是失效分析，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，失效分析，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认*终的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。电子元器件失效分析主要失效模式（但不限于）开路、短路、烧毁、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等常用失效分析技术手段电测：连接性测试电参数测试功能测试无损分析技术：X射线透i视技术三维透i视技术反射式扫描声学显微技术（C-SAM）制样技术：开封技术（机械开封、化学开封、激光开封）去钝化层技术（化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层）微区分析技术（FIB、CP）失效分析实验室-失效分析-苏州天标检测由苏州天标检测技术有限公司提供。苏州天标检测技术有限公司在二极管这一领域倾注了诸多的热忱和热情，tbk天标检测一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。相关业务欢迎垂询，联系人：刘天。)