对比试样/块校准公司-对比试样/块校准-纳克(查看)
企业视频展播,请点击播放视频作者:钢研纳克检测技术股份有限公司对比试样校准的测试条件一.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值,然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。二.基体金属较小厚度基体金属必须有一个给定的较小厚度,使探头的电磁场能完全包容在基体金属中,较小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关,在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断,或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。二.如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。测量该点的覆层厚度,需要在相同条件的无覆层表面进行预先校准后测量。对比试样校准测量前的准备1.对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗,用滤纸擦干,保持表面清洁,无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。2.将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定),对比试样/块校准公司,调整试样,使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。3.显微镜在合适的明场条件下,对比试样/块校准机构,先用低放大倍数(10×或20×)找到人工缺陷位置,再换至高放大倍数对试样聚焦,调整载物台及试样,使人工缺陷处于视场中央。调整测量设备,对比试样/块校准哪家好,使测量面聚焦清晰,选择测量点位。对比试样校准根据测量原理分类1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,对比试样/块校准,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。对比试样/块校准公司-对比试样/块校准-纳克(查看)由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。“无损检测检验,无损校准评价,无损检测系统,无损检测仪器”选择钢研纳克检测技术股份有限公司,公司位于:北京市海淀区高梁桥斜街13号,多年来,北京纳克无损坚持为客户提供好的服务,联系人:刘经理。欢迎广大新老客户来电,来函,亲临指导,洽谈业务。北京纳克无损期待成为您的长期合作伙伴!)