企业视频展播，请点击播放视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司CT检测工业CT检测技术是以X射线和γ射线作为辐射源的工业CT，其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源，其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ICT)，使用的辐射源多为x射线或y射线，CT检测方案，包括低能X射线或由产生的高能X射线，CT检测报价，常用的γ射线同位素则有192Ir、137Cs和60Co等。CT检测平板探测器平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如CsI）的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127或200μm，平板尺寸大约45cm（18in）。读出速度大约3～7.5帧/s。优点是使用比较简单，没有图像扭曲。图像质量接近于胶片照相，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，对高能X射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。在较高能量应用时，CT检测，必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kV以下的低能效果较好。CT检测图像增强器是一种传统的面探测器，CT检测哪家好，是一种真空器件。名义上的像素尺寸＜100μm，直径152～457mm(6～18in)。读出速度可达15～30帧/s，是读出速度快的面探测器。由于图像增强过程中的统计涨落产生的固有噪声，图像质量比较差，一般射线照相灵敏度仅为7～8%，在应用计算机进行数据叠加的情况下，射线照相灵敏度可以提高到2%以上。缺点就是易碎和有图像扭曲。面探测器的基本优点是不言而喻的—它有着比线探测器高得多的射线利用率。面探测器也比较适合用于三维直接成像。所有面探测器由于结构上的原因都有共同的缺点，即射线探测效率低、无法限制散射和窜扰、动态范围小等。高能范围应用效果较差。CT检测方案-CT检测-纳克(查看)由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。行路致远，砥砺前行。钢研纳克检测技术股份有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为机械及工业制品项目合作具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)